IEC 61745:1998
光学纤维几何参数测量装置校准端面影像分析程序
End-face image analysis procedure for the calibration of optical fibre geometry test sets
2017-08
IEC 61745:1998 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- IEC 61745:1998
- 发布
- 1998年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 替代标准
- IEC 61745:2017
- 当前最新
- IEC 61745:2017
- 被代替标准
- IEC 86/125/FDIS:1998
- 在研究和生产环境中，存在一系列用于表征光纤几何形状的测试方法。此外，每种测试方法可以确定完整的几何表征所需的许多参数中的一个或多个。本国际标准描述了执行端面图像分析（也称为近场或灰度分析）的测试装置的校准。然而，这些原理可以应用于不同类型的测试集。该标准仅涉及单模光纤测量的校准；然而，这种类型的测试装置也可用于测量多模光纤纤芯的几何参数，但与这些测量相关的不...
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IEC 61745:1998 中可能用到的仪器设备
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