CNS 6560-1980
高速二极管逆向回复时间之测量法

Measurement of Reverse Recovery Time for Semiconductor Diodes

高速二极管逆向回复时间之测量法 是非强制性国家标准，您可以免费下载预览页

预览 CNS 6560-1980前三页

标准号: CNS 6560-1980
发布: 1980年
发布单位: 台湾地方标准
当前最新: CNS 6560-1980

适用范围: 本标准规定高速二极管逆向回复时间之测量方法，适用于 300ns 以下之信号二极管（回复时间大于 300nesec 之测量法可参照 CNS _ ）。

CNS 6560-1980相似标准

CNS 6561-1980 高速二极管逆向回复时间测试用固定装置之特性 JEDEC JESD24-10-1994 JESD24的补遗－功率MOSFET Drain-Sources二极管的逆向恢复时间trr测量的测试方法 CNS 8383-1982 二极管顺向瞬时之测量 GOST 18986.8-1973 半导体二极管.反向阻恢复时间的测量方法 PN T01504-59-1987 二极管．测量方法．反向恢复时间t以及反向恢复电流i．r

CNS 6560-1980 中可能用到的仪器设备

高速逆流色谱

Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号