CNS 5540-1988
单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法–电压可变电容量二极管高温逆向偏压试验

Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Reverse Bias Test of Variable Capacitance Diodes Under High Temperature)

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标准号

CNS 5540-1988

发布日期

1988年09月14日

实施日期

1988年09月14日

废止日期

无

国际标准分类号

19.040;19.080;31.080.01

发布单位

CN-CNS

适用范围

本标准规定电压可变电容量二极管在逆向偏压动态下，所能耐温度应力、电压应力及使用某些方法，加速其劣化以达到使用寿命评价之试验方法。