CNS 5751-1980
电子组件与半导体应用之陶质视在密度测试法

Method of Test for Apparent Density of Ceramics for Electron Device and Semiconductor Application

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标准号

CNS 5751-1980

发布日期

1980年07月09日

实施日期

1980年07月09日

废止日期

无

国际标准分类号

19.080

发布单位

CN-CNS

适用范围

本标准规定陶质部分视在密度之测试，此陶质部分乃用于电子组件与半导体应用者，其最大尺度为 25.4 mm，有不连续细孔或无细孔。

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