EN 60749-4:2017
半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:稳态温度湿度偏差耐久性试验

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

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标准号: EN 60749-4:2017
发布: 2017年
发布单位: 欧洲电工标准化委员会
当前最新: EN 60749-4:2017

IEC 60749-4:2017(E) 提供高度加速温度和湿度应力测试 (HAST)，用于评估非气密封装半导体器件在潮湿环境中的可靠性。相对于前一版本，本版本包括以下重大技术变化： a) 澄清了表 1 中详细列出的温度、相对湿度和持续时间的要求； b) 建议在测试装置中放置限流电阻，以防止测试板或 DUT 损坏； c) 允许额外的测试时间延迟或恢复压力延迟...

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BS EN 60749-5:2017 半导体器件.机械和气候试验方法.稳态温度湿度偏差寿命试验

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说明：

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史上最全可靠性试验标准，384项，不仅包括中国标准

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