IEEE Std 1160-1993
用于辐射探测器的高纯度锗晶体的 IEEE 标准测试程序

IEEE Standard Test Procedures for High-Purity Germanium Crystals for Radiation Detectors


标准号
IEEE Std 1160-1993
发布
1993年
发布单位
美国电气电子工程师学会
当前最新
IEEE Std 1160-1993
 
 
适用范围
本标准适用于高纯锗的整体特性的测量,因为它们涉及伽马射线和 X 射线锗探测器的制造和性能。这种锗是单晶的并且具有每cm3少于1011个电活性杂质中心的净浓度,通常在1010cm-3的数量级。

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