ASTM D7653-10的FTIR与ASTM D7941-14的CRDS两种光谱方法则是用于现场或在线分析的潜在技术,但仍需与额外的离线技术联用测定其他杂质。当前市面上对氢燃料中所有杂质的在线氢分析仪几乎没有。无论在线还是离线分析技术,目前仍不能用单一技术实现氢气中所有杂质种类及含量的精确检测。...
这篇简短的文章探讨了扫描探针技术如何有助于获得更多的测量(在相对较短的时间内),以更好地评估涂层厚度的一致性,特别是在更大,更复杂的结构上。背景 有两个行业标准被广泛用于测量涂层厚度。这些包括ASTM D7091,应用于黑色金属和非磁性涂层的非磁性涂层的干膜厚度的无损测量的标准规范和应用于有色金属的非磁性涂层和SSPC-PA 2,确定符合干涂层厚度要求的程序。...
全新的技术 卓越的性能HDXRF®作为全新一代高分辨率X射线荧光技术,不仅极大的提高了检出下限及仪器稳定性,更可以同时测定基材与涂层中的重金属元素,对于玩具及其他消费品的测试更加快捷、准确。HDXRF®的检出下限(ppm)HDXRF®技术在准确性和可靠性方面能够与“湿化学法”相媲美,是快速定量分析的最佳选择,目前被广泛应用于全球范围内的CPSC认证实验室。...
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