工业CT 层析摄影也叫计算机断层扫描成像( ComputedTomography,即CT) ,该技术是利用X 射线探测物体的内部,通过测定射线的衰减系数,采用数学方法,经计算机处理,求解出衰减系数值在某剖面上的二维分布矩阵,转变为图像画面上的灰度分布,从而实现建立断面图像的成像技术。通过分析断层面内密度的分布,就可以获得复合材料内部密度均匀性、微孔隙体积含量与分布等方面的信息。...
X射线强度随偏离值ΔL的增大而迅速减小(图89.13)(这就是通常不采用电磁偏转的方法进行选点分析的根本原因)。如果希望扫描范围内X射线强度的变化不超过10%,对于用TAP晶体分光的CuKαX射线,ΔL不应超过±20μm。对于用LiF晶体分光的CuKαX射线,ΔL不超过±30μm。为了获得低倍的均匀的X射线扫描图像还应采用多次扫描照相法。...
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