ISO 6719:1986
阳极氧化铝和铝合金 用积分球仪法测量铝表面的反射特性

Anodized aluminium and aluminium alloys; Measurement of reflectance characteristics of aluminium surfaces using integrating-sphere instruments

2010-10

ISO 6719:1986 发布历史

ISO 6719:1986由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 1986-08。

ISO 6719:1986 在中国标准分类中归属于: A29 材料防护,H20 金属理化性能试验方法综合。

本标准有等同采用的 中文版 GB/T 20505-2006 铝及铝合金阳极氧化 阳极氧化膜表面反射特性的测定 积分球法

ISO 6719:1986 阳极氧化铝和铝合金 用积分球仪法测量铝表面的反射特性的最新版本是哪一版?

最新版本是 ISO 6719:2010

ISO 6719:1986的历代版本如下:

  • 2010年 ISO 6719:2010 铝及铝合金阳极氧化.使用积分球仪器测定阳极氧化膜表面反射特性
  • 1986年 ISO 6719:1986 阳极氧化铝和铝合金 用积分球仪法测量铝表面的反射特性

 

GB/T 20624的本部分规定了用一直径为12.7 mm或15.9 mm的球形冲头撞击涂层及底材而引 起其快速变形并对变形结果进行评定的试验方法。 注:术语“耐冲击性”是包括在本标准的标题中, 但所用仪器的一个重要特征是它将引起快速变形而不是真正意义 上的冲击。 当采用数值结果时, 本试验方法再现性较差, 故限定在同一实验室内进行试验。如用等级评定代替数值结果可以提高实验的一致性。

采用 ISO 6719 的发行版本有:

  • DS/EN ISO 6719:2010 铝及其合金的阳极氧化 使用积分球仪器测量铝表面的反射特性
  • EN ISO 6719:2010 阳极氧化铝和铝合金.用积分球仪法测量铝表面的反射特性
标准号
ISO 6719:1986
发布
1986年
中文版
GB/T 20505-2006 (等同采用的中文版本)
发布单位
国际标准化组织
替代标准
ISO 6719:2010
当前最新
ISO 6719:2010
 
 

ISO 6719:1986相似标准


推荐

STAN-SSH 高镜面反射率标准板

使用提示使用海洋光学的光谱时,STAN-SSH限于200-1100 nm设置高反射率基准时可使用STAN-SSH虽然STAN-SSH的膜由一层外涂层保护着,用户还是应该在使用时备加小心,以保证标准面不被破坏。不要用手或者物体碰表面,以避免污染破坏。清理STAN-SSH表面时,先用高压气体吹掉表面的污垢尘土,然后用牵引清洁除去表面的指纹固定残留物。...

测厚仪的产品简介

 测厚仪的分类及其原理:  激光测厚仪是利用激光的反射原理,根据光切测量观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度,是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接,并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。  X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。...

二氧化钛表面涂层的研究

400 821 0778ins.cn@dksh.com关注大昌华嘉科学仪器部DKSH INSwww.dksh-instrument.cn大昌华嘉科学仪器部- 激光粒度分析、颗粒图像分析系统、电声Zeta电位、超声纳米粒度- 光学接触角测量仪、/界面张力- 比表面及孔隙度分析、物理/化学吸附- 全自动真密度分析- 元素分析、总氮/蛋白质分析- 总有机碳(TOC)分析- 总有机卤素分析...

实验室检验检测设备--测厚仪

采用电涡流原理的测厚仪,原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量,如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆,塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性,通过校准同样也可测量,但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体,但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。测量注意事项:1.为了减少测量体材质对测量精度的影响。...


ISO 6719:1986 中可能用到的仪器设备


谁引用了ISO 6719:1986 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号