HB 6742-1993
单晶叶片晶体取向的测定X射线背射劳厄照相法
Determination of Crystal Orientation of Single Crystal Blades by X-ray Backblow Laue Photography
HB 6742-1993 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- HB 6742-1993
- 发布
- 1993年
- 发布单位
- 行业标准-航空
- 当前最新
- HB 6742-1993
- 本标准规定了采用Ｘ射线背射劳厄照相法检测金属晶体取向的方法原理、仪器设备、角度测量、衍射花样分析及取向标定的一般要求。 本标准适用于铸造镍基高温合金定向凝固的单晶和柱状晶叶片及试件晶体取向的检测。例如，适用于ＤＤ系列单晶及ＤＺ系列柱状晶，也适用于大于１ｍｍ直径晶粒的取向测定。 其它金属晶体的取向测定也可参照使用。
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