四探针电阻率测试仪是一种测量半导体材料的电阻率的仪器。 对于半导体材料的电阻率,一般采用四探针、三探针和扩展电阻。 电阻率是反映半导体材料导电性能的重要参数之一。测量电阻率的方法很多,四探针法是一种广泛采用的标准方法。它的优点是设备简单、操作方便,精确度高,对样品的形状无严格要求。 最常用的是直线型四探针。...
四探针电阻率又名方阻测试仪是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗四探针电阻率方阻测试仪单晶、硅片)电阻率,以及扩散层、外延层、 ITO 导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份(简称:主机)、测试架及四探针头组成。 超高阻双电四探针测试仪是宁波江北瑞柯伟业仪器有限公司研发的产品,目前已被多家企业咨询,预定,购买。...
它由硬件设备和测量软件组成,包括高温测试平台、高温四探针夹具、电阻率测试仪和高温电阻率测量系统软件四个组成部分。 测试应用范围 高温四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。...
高温四探针测试仪的测量原理 测量电阻率的方法很多,如三探针法、电容-电压法、扩展电阻法等,四探针法则是一种广泛采用的标准方法,高温四探针测试仪采用经典直排四探针原理,同时采用了双电测组合四探针法。 经典的直排四探针法测试电阻率,要求使用等间距的探针,如果针间距离不等或探针有游移,就会造成实验误差。当被测片较小或在大片边缘附近测量时,要求计入电场畸变的影响进行边界修正。 ...
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