QJ 1833-1990
推进剂贮箱制造、验收通用技术条件

QJ 1833-1990 中，可能用到以下仪器

 

X荧光镀层测厚仪 Thick 600

X荧光镀层测厚仪 Thick 600

江苏天瑞仪器股份有限公司

 

X荧光镀层测厚仪 Thick 800A

X荧光镀层测厚仪 Thick 800A

江苏天瑞仪器股份有限公司

 

ICS449/ICS469台秤

ICS449/ICS469台秤

梅特勒托利多

 

芯硅谷 数显测厚表

芯硅谷 数显测厚表

上海阿拉丁生化科技股份有限公司

 

QJ 1833-1990

标准号
QJ 1833-1990
发布日期
1990年01月13日
实施日期
1990年11月01日
废止日期
无
中国标准分类号
V72
发布单位
CN-QJ

QJ 1833-1990 中可能用到的仪器设备

X荧光光谱/XRF（能量色散型X荧光光谱仪） 在线测厚仪 涂镀层及薄膜测厚仪 激光粒度仪、纳米粒度仪 电磁/电涡流测厚仪 X射线荧光测厚仪 动物代谢等功能检测设备


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