QJ 2689-1994
电子元器件中多余物的X射线照相检验方法
X-ray photographic inspection method for redundant substances in electronic components
- 标准号
- QJ 2689-1994
- 发布
- 1994年
- 发布单位
- 行业标准-航天
- 当前最新
- QJ 2689-1994
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