QJ 3123-2000
氦质谱真空检漏方法

Vacuum leaks detection method by helium mass spectrometer

QJ 3123-2000 中，可能用到以下仪器

 

TripleTOF® 5600+ 系统

TripleTOF® 5600+ 系统

SCIEX

 

Vion IMS QTof质谱仪

Vion IMS QTof质谱仪

沃特世科技（上海）有限公司

 

TripleTOF™ 5600+质谱系统

TripleTOF™ 5600+质谱系统

SCIEX

 

布鲁克rapifleX MALDI-TOF/TOF基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪

布鲁克rapifleX MALDI-TOF/TOF基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪

布鲁克（北京）科技有限公司-质谱仪器

 

microflex LRF MALDI-TOF质谱仪

microflex LRF MALDI-TOF质谱仪

布鲁克（北京）科技有限公司-质谱仪器

 

Restek电子检漏仪

Restek电子检漏仪

瑞思泰康科技（北京）有限公司上海分公司

 

QJ 3123-2000

标准号
QJ 3123-2000
发布日期
2000年09月20日
实施日期
2001年01月01日
废止日期
无
中国标准分类号
V04
发布单位
CN-QJ

QJ 3123-2000 中可能用到的仪器设备

氦质谱检漏仪 分子荧光光谱/荧光分光光度计 MALDI质谱 液质联用仪 流量计/流速仪/测漏仪 在线粘度计/工业用粘度计 气体报警器(可燃和有毒有害气体)


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