SJ/T 10293.2-1991
取样示波器测试方法

Test methods for sampling oscilloscopes


SJ/T 10293.2-1991 中,可能用到以下仪器设备

 

自动进样器 (QS30)

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梅特勒-托利多中国(Mettler-Toledo)

 

超越系列XP分析天平

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梅特勒-托利多中国(Mettler-Toledo)

 

超越系列XS分析天平

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梅特勒-托利多中国(Mettler-Toledo)

 

梅特勒 新经典系列ME天平

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梅特勒ME系列千分之一分析天平ME103/ME203/ME303/ME403

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梅特勒AL 分析天平

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岛津电子托盘天平UW/UX系列

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岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

PL602E梅特勒便携式电子天平,梅特勒天平

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梅特勒-托利多中国(Mettler-Toledo)

 

分析天平AUX220

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岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

分析天平

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BT系列准微量、分析、精密天平

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赛多利斯电子分析天平 ED系列

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赛多利斯电子天平

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FA电子分析天平

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JA电子精密天平

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上海舜宇恒平科学仪器有限公司

 

FA系列电子分析天平

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上海舜宇恒平科学仪器有限公司

 

YP电子天平(带风罩)

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上海舜宇恒平科学仪器有限公司

 

MP电子天平

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上海舜宇恒平科学仪器有限公司

 

JY电子天平

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大称量电子天平

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 天平、电子天平、分析天平

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电子天平

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赛多利斯 Prospenser 瓶口分液器

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NewClassic ME ME54/ME104/ME204分析天平

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梅特勒-托利多超微量天平XP系列

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梅特勒-托利多XP/XS系列精密天平

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梅特勒NewClassic ML分析天平

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梅特勒-托列多手持式粉末分配 (HPD)

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XPE105万分之一天平

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梅特勒托利多ME503T电子天平

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梅特勒-托利多ME204T分析天平

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LE204E天平

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LE203E 天平

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LE303E 电子天平

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LE403E 电子天平

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LE2002E 电子天平

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LE3002E电子天平

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SJ/T 10293.2-1991



标准号
SJ/T 10293.2-1991
发布日期
1991年05月28日
实施日期
1991年12月01日
废止日期
2013-12-01
中国标准分类号
L85
国际标准分类号
17.220
发布单位
CN-SJ
代替标准
SJ/T 10293-2013
适用范围
本标准规定了取样示波器性能特性的测试方法。 本标准适用于SJ/T 10293.1《取样示波器通用技术条件》所规定适用范围内的取样示波器。

SJ/T 10293.2-1991 中可能用到的仪器设备





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