SJ/T 11107-1996
金属覆盖层 金和金合金电镀层的试验方法 第3部分：孔隙率的电图像试验
Metallic coatings - Test methods for electrodeposited gold and gold alloy coatings Part 3 Electrographic tests for porosity
SJT11107-1996, SJ11107-1996
2016-06
- 标准号
- SJ/T 11107-1996
- 别名
- SJT11107-1996, SJ11107-1996
- 发布单位
- 行业标准-电子
- 替代标准
- SJ/T 11104-2016
- 当前最新
- SJ/T 11104-2016
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涂层测厚仪的详细介绍
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数字式覆层测厚仪使用说明书
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涂层测厚仪总类
X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。 随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。...