SJ 2354.3-1983
PIN、雪崩光电二极管暗电流的测试方法
Method of measurement for dark current of PIN and avalanche photodiodes
SJ 2354.3-1983 发布历史
SJ 2354.3-1983由行业标准-电子 CN-SJ 发布于 1983-08-15，并于 1984-07-01 实施。
SJ 2354.3-1983 在中国标准分类中归属于: L53 半导体发光器件，在国际标准分类中归属于: 31.260 光电子学、激光设备。
SJ 2354.3-1983的历代版本如下：
- 1983年08月15日 SJ 2354.3-1983 PIN、雪崩光电二极管暗电流的测试方法
SJ 2354.3-1983 PIN、雪崩光电二极管暗电流的测试方法 于 2015-04-30 变更为 SJ/T 2354-2015 PIN、雪崩光电二极管测试方法。
- 标准号
- SJ 2354.3-1983
- 发布日期
- 1983年08月15日
- 实施日期
- 1984年07月01日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- L53
- 国际标准分类号
- 31.260
- 发布单位
- CN-SJ
- 代替标准
- SJ/T 2354-2015