SJ 20400-1994
低副瓣平板裂缝天线性能近场测试方法

Methods of near-field measurement for planar waveguide-fed slot arrays with low sidelobes

低副瓣平板裂缝天线性能近场测试方法 是非强制性国家标准，您可以免费下载前三页

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SJ 20400-1994 中，可能用到以下仪器设备

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赛莱默分析仪器中国(Xylem Analytics)

标准号: SJ 20400-1994
发布日期: 1994年09月30日
实施日期: 1994年12月01日
废止日期: 无
中国标准分类号: V41
发布单位: CN-SJ

SJ 20400-1994 中可能用到的仪器设备

激光器光学仪器组件多参数水质分析仪烟尘/烟气采样器无线电计量

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