SJ 2749-1987
半导体激光二极管测试方法

Method of measurement for semiconductor laser diodes


SJ 2749-1987 中,可能用到以下仪器

 

MicOS显微光谱测量系统

MicOS显微光谱测量系统

HORIBA科学仪器事业部

 

亚20飞秒激光脉冲靶基因转移系统

亚20飞秒激光脉冲靶基因转移系统

北京欧兰科技发展有限公司

 

太阳能电池QE/IPCE(量子效率)测量系统

太阳能电池QE/IPCE(量子效率)测量系统

北京卓立汉光仪器有限公司

 

NanoMOKE磁光克尔测量系统

NanoMOKE磁光克尔测量系统

QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司

 

SJ 2749-1987



标准号
SJ 2749-1987
发布日期
1987年02月10日
实施日期
1987年10月01日
废止日期
中国标准分类号
L51
国际标准分类号
31.260
发布单位
CN-SJ
代替标准
SJ/T 2749-2016
适用范围
本标准适用于半导体激光二极管光电参数的测试。 在引用本标准时,有关的具体要求应在相应的详细规范中加以规定。

SJ 2749-1987 中可能用到的仪器设备





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