SJ 20844-2002
半绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法
Test method for microzone homogeneity of semi-insulating monocrystal gallium arsenide
- 标准号
- SJ 20844-2002
- 发布
- 2002年
- 发布单位
- 行业标准-电子
- 当前最新
- SJ 20844-2002
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