SJ/T 10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
Semiconductor integrated circuits General principles of measuring methods for CMOS circuits
SJT10741-2000, SJ10741-2000
2011-08
- 标准号
- SJ/T 10741-2000
- 别名
- SJT10741-2000, SJ10741-2000
- 发布
- 2000年
- 发布单位
- 行业标准-电子
- 当前最新
- SJ/T 10741-2000
- 适用范围
- 本标准规定了半导体集成电路CMOS电路电特性测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路CMOS电路电特性的测试。
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