T/CIRA 12-2020
工业仪表用氪85测厚源

Krypton 85 Thickness Measurement Source For Industrial Gauging


T/CIRA 12-2020 中,可能用到以下仪器

 

第五代SFJ-231D型半导体专用氦质谱检漏仪

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安徽皖仪科技股份有限公司

 

第五代SFJ-271型电厂专用检漏仪

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安徽皖仪科技股份有限公司

 

中科科仪氦质谱检漏仪ZQJ-2000型 ZQJ-2000型

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北京中科科仪股份有限公司

 

KYKY ZQJ-2300氦质谱检漏仪用于工业领域

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北京中科科仪股份有限公司

 

ZQJ-3000型氦质谱检漏仪应用于半导体工业

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北京中科科仪股份有限公司

 

ZQJ-230EK氦质谱检漏仪用于工业

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北京中科科仪股份有限公司

 

焊接波纹管 氦质谱检漏仪

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伯东企业(上海)有限公司

 

亿杰仪表DigiPas DWL-100 CWP专业数字水平仪

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深圳市亿杰仪表有限公司

 

天睿CHY-F-12测厚仪

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济南天睿自动化科技有限公司

 

粉针剂包装检漏仪

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济南三泉中石实验仪器有限公司

 

天睿 测厚仪

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济南天睿自动化科技有限公司

 

托能斯  IPG手持式激光焊接系统

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托能斯科技(上海)有限公司

 

芯硅谷 数显测厚表

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上海阿拉丁生化科技股份有限公司

 

	  Li箔片

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合肥科晶材料技术有限公司

 

T/CIRA 12-2020

标准号
T/CIRA 12-2020
发布
2020年
发布单位
中国团体标准
当前最新
T/CIRA 12-2020
 
 
技术参数1:氪85放射源安全性能等级:不低于C33322; 技术参数2:表面污染限值:<200Bq; 技术参数3:泄露检验限值:时间间隔为7天的2次检验均<4000Bq/24h; 技术参数4:推荐使用期限10年;  技术参数5:85Kr浓度>2%,其余气体为氪的非放射性同位素气体;

T/CIRA 12-2020相似标准


T/CIRA 12-2020 中可能用到的仪器设备





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