ISO 17862:2013
表面化学分析——二次离子质谱法——单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers
说明：
- 此图仅显示与当前标准最近的5级引用；
- 鼠标放置在图上可以看到标题编号；
- 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小；
- 表示标准的节点，可以拖动；
- 绿色表示标准：ISO 17862:2013 ， 绿色、红色表示本平台存在此标准，您可以下载或者购买，灰色表示平台不存在此标准；
- 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。
- 标准号
- ISO 17862:2013
- 发布
- 2013年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 17862:2022
- 当前最新
- ISO 17862:2022
- 本国际标准规定了一种方法，用于确定单离子计数飞行时间（TOF）二次离子质谱仪中强度标度线性可接受偏差极限的最大计数率，使用基于聚（四氟乙烯）（PTFE）。 它还包括一种方法，用于校正因微通道板 (MCP) 或闪烁体和光电倍增管后的时间数字转换器 (TDC) 检测系统因二次离子在死区期间到达而导致的强度损失而引起的强度非线性。 校正可以将 95% 线性度的强度...