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当银厚度为1-30 µm 范围内，测量值与标称值平均误差为0.6 µm， 30-60 µm 范围内平均误差为 1.3 µm，相对误差小于4%，在可接受范围以内，测厚范围可达1-60 µm。目前，奥林巴斯VANTATM手持式光谱分析仪（HHXRF）的镀层模式能够分析多层镀层材料，基体可以是任何类型的材料，不局限于金属。因此，在汽车制造、航空航天、电力等行业薄膜厚度测定具有巨大的应用前景。...
不仅可以测量平面试样的覆盖层厚度，还可以测量圆柱形和线材的覆盖层厚度，尤其适合测量多层镍镀层的金属及其电位差。测量镀层的种类为Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。 X-ray 方法： 适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。包括：金(Au)，银(Ag)，锡(Sn)，铜(Cu)，镍(Ni)，铬(Cr)等金属元素厚度。 ...
破坏性测厚法包括阳极溶解库仑法、金相法、溶解称重法、液流法、点滴法等;非破坏性测厚法包括机械量具法、磁性法、涡流法、β射线反向散射法、x射线分光法等。采用这些方法测量镀层的厚度时请参照相应的国家标准。3）镀层的耐蚀性评定镀层耐蚀性的试验方法主要有两大类：自然环境试验和人工加速腐蚀试验。...
前期陶瓷金属化层，镍层厚度的测量，均采用抽样破坏性的测量，且测量方法粗陋，不，从而业内同行急盼快速、无损测厚仪器，X荧光射线无损金属化瓷件厚度仪的出现，是陶瓷—金属化封接技术的保障和提升，也是坚强的后盾。 ...
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