-1996方法107温度冲击试验的要求 GJB 360.7-1987 电子及电气元件试验方法 温度冲击试验 ...
-1996方法107温度冲击试验的要求 GJB 360.7-1987 电子及电气元件试验方法 温度冲击试验...
6、样品失效模式的不同 冷热冲击是由于材料蠕变及疲劳损伤引起的失效,也称脆性失效; 快速温变,由于材料疲劳引起的失效。7、常见故障现象不同 冷热冲击的故障主要体现在,如零部件的变形或破裂,绝缘保护层失效,运动部件的卡紧或松弛电气和电子元器件的变化,快速冷凝水或结霜引起电子或机械故障。 ...
150.-2009 军用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验 ...
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