微束分析-分析透射电子显微术-电子能量损失谱学实验参数测定技术报告 是非强制性国家标准,您可以免费下载预览页
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STEM分析图入射电子束照射试样表面发生弹性散射,一部分电子所损失能量值是样品中某个元素的特征值,由此获得能量损失谱(EELS),利用EELS可以对薄试样微区元素组成、化学键及电子结构等进行分析。...
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