BS PD IEC/PAS 62276:2002
声表面波器件用单晶片规格和测量方法

Single crystal wafers applied for surface acoustic wave device. Specification and measuring method

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标准号: BS PD IEC/PAS 62276:2002
发布: 2002年
发布单位: SCC
当前最新: BS PD IEC/PAS 62276:2002

适用范围: 交叉引用：IEC 60758:1993*IEC 60862-1:1989*IEC 60862-2:1991*IEC 60862-3:1986*IEC 61019-1-1:1990*IEC 61019-1-2:1993*IEC 61019-2:1995*IEC 61019-3:1991*IEC 60410*

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