ASTM E810-20
使用共面几何的逆反射片回射系数的标准测试方法

Standard Test Method for Coefficient of Retroreflection of Retroreflective Sheeting Utilizing the Coplanar Geometry


标准号
ASTM E810-20
发布
2020年
发布单位
美国材料与试验协会
当前最新
ASTM E810-20
 
 
引用标准
ASTM E1709 ASTM E177 ASTM E284 ASTM E308 ASTM E691 ASTM E808 ASTM E809
适用范围
1.1 本测试方法描述了逆向反射片逆向反射性能的仪器测量。
1.2 本测试方法的使用者必须指定要使用的入射角和观察角,并且可以指定旋转角度。
1.3 本测试方法旨在作为实验室测试,并且需要能够足够暗的设施,以便杂散光不会影响测试结果。测试设备必须能够实现共面的几何形状。
1.4 便携式和台式逆反射测量设备可用于确定 RA 值,前提是使用根据本测试方法测量的几何形状和适当的替代标准参考面板。在这种情况下,适用实践 E809 中程序 B 的方法。有关使用便携式逆反射仪的更多信息,请参阅测试方法 E1709。
1.5 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任建立适当的安全、健康和环境实践,并在使用前确定监管限制的适用性。
1.6 本国际标准是根据世界贸易组织贸易技术壁垒(TBT)委员会发布的《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确立的国际公认的标准化原则制定的。

ASTM E810-20相似标准


推荐

学术干货 | 掠入射X射线衍射在材料结构研究中应用

图1  GID技术原理图( a ) 非共面几何(NCG); ( b ) 共面几何(CG)(l——反射衍射面; ϕ——错取向角; h——倒易点阵矢量;θB——精确布拉格角; ΦB——满足精确布拉格条件角)GID技术特点是:1、布拉格反射和全反射伴随。在NCG几何中,动量传输绝大部分沿表面或界面进行;在CG几何中,动量传输沿表面也有较大分量。因此,GID技术对沿着表面和界而内原子位移敏感。...

使用二维探测器进行薄膜IP和OP测试

最佳掠入射角由薄膜厚度(t)和薄膜材料线性衰减系数(m)决定:掠入射角度应该高于全反射临界角,该角度通常介于1到3°,取决于入射X射线波长。线聚焦入射光束通常与点探测器配合使用。在如此低角度,入射X射线在相同入射角度q覆盖大面积样品表面。一套索拉狭缝,其中金属垂直于衍射仪平面且沿衍射仪中心和探测器之间方向排列,放置在点探测器前面。...

标线逆反射系数测试仪该怎么维护你不一定知道

 标线逆反射系数测试仪可用于交通安全管理以及公路,铁路,航空等有关部门进行反光标志等现场测量。也可用于测量卡车和汽车上反光标志反光性能。监控材料反射质量,以确保标记材料满足相关标准要求。  1、测量值:校准后向反射标记测量仪后,待测样品后向反射系数值。...


谁引用了ASTM E810-20 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号