ASTM D5796-20
使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
Standard Test Method for Measurement of Dry Film Thickness of Thin-Film Coil-Coated Systems by Destructive Means Using a Boring Device
哪些标准引用了ASTM D5796-20
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- 标准号
- ASTM D5796-20
- 发布
- 2020年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 当前最新
- ASTM D5796-20
- 引用标准
- ASTM D3794
- 1.1 本测试方法涵盖通过在涂膜上钻出的精密切割的浅角度凹坑的显微镜观察来测量涂膜的干膜厚度（DFT）。该凹坑显示出呈环状的横截面层，其宽度与涂层的深度成正比，并允许直接计算干膜厚度。 1.1.1 设备、程序、精度和偏差讨论包括方法 A 和方法 B。方法 A 涉及使用光学测量设备，该设备已不再市售，但仍然是干膜测量的有效方法。方法 B 是取代方法 A 的软件...
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