2.1 原理仪器测量中能量转换过程:射线能量大部分先被溶剂分子吸收使之受激,溶剂分子从激发态回到基态时释放出能量传给闪烁剂,闪烁剂从激发态复原时将多余能量以光子形式释出,每种闪烁各有特定的发射光谱,若发射光谱与光电倍增管的光谱相匹配,则光子到达光阴极后形成光电子。以放大后输出脉冲至记录系统,如光谱匹配不良可加第二闪烁剂吸收第一闪烁剂发出的光子,释出本身的特征光子,使光子匹配得以改善,提高计数效率。...
2.1 原理仪器测量中能量转换过程:射线能量大部分先被溶剂分子吸收使之受激,溶剂分子从激发态回到基态时释放出能量传给闪烁剂,闪烁剂从激发态复原时将多余能量以光子形式释出,每种闪烁各有特定的发射光谱,若发射光谱与光电倍增管的光谱相匹配,则光子到达光阴极后形成光电子。以放大后输出脉冲至记录系统,如光谱匹配不良可加第二闪烁剂吸收第一闪烁剂发出的光子,释出本身的特征光子,使光子匹配得以改善,提高计数效率。...
四、XPS实验技术1、样品的制备技术为利于真空进样,对于块状样品和薄膜样品,其长宽最好小于10mm,高度小于5mm。对于粉末样品,一般是将其粘在双面胶带上或压入铟箔(或金属网)内,或者把把粉体样品压成薄片,然后再固定在样品台上。对于表面有污染的样品,在进入真空系统前必须用溶剂清洗(萃取)去除表面污染物。对于能耐高温的样品,可采用高真空下加热的办法除去样品表面吸附物。...
荷电效应将使样品表面出现一稳定的电势Vs,对电子的逃离有一定束缚作用。因此荷电效应将引起能量的位移,使得测量的结合能偏离真实值,造成测试结果的偏差。在用XPS测量绝缘体或者半导体时,需要对荷电效应所引起的偏差进行校正(荷电校正的目的),称之为“荷电校正”。 2. 如何进行荷电校正? 最常用的,人们一般采用外来污染碳的C1s作为基准峰来进行校准。...
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