XRF(X荧光光光谱仪)探测器是用来接收X射线并把它转变成可测量的或可观察的量。现在最常用的探测器有流气式正比计数器、封闭式正比计数器、闪烁计数器以及应用于X射线荧光能谱分析上的半导体探测器。 (1)流气式正比计数器。它主要用来探测波长在0.2~1.5nm的X射线,通常用厚2~6μm,并喯镀铝的聚酯膜作窗口材料,充有90%氩和10%甲烷的混合气体。...
标准明确了波长色散X射线荧光光谱仪精度领域所涉及的测试项目,包括计数器的分辨率(流气式正比计数器、烁计数器和封闭式正比计数器)、流气式正比计数器窗膜电导率、脉冲漂移校正、光谱仪([精密度、测试样品、仪器条件、稳定性、样品旋 转测试、转盘再现性试验等)设备静止时间和最大可用计数率等。同时对测试频率和测试方法确定了统一的规范。 ...
就目前X荧光光谱仪常用的三种X射线探测器而言,产生一个离子对的平均能量,在Si(Li)探测器、流气式正比计数器、闪烁计数器之间大约相差一个量级,而分辨率与统一个光子产生的电子数的平方根成正比,故三者之间的分辨率也粗略相差三倍。由人射光子在探测器中产生的等价离子对数目与人射光子能量成正比,与产生离子对的平均能量成反比。 ...
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