(3)X射线荧光光谱法X射线荧光光谱法的检测偏差来自样品本身。在压片制样的测定过程中存在颗粒效应、基质效应、矿物效应等影响。即粉末样品的颗粒细度不一致、所含元素不一致、所含矿物不一致,对检测结果会带来偏差。通过熔融法将待测样品熔融成玻璃片进行测定,可以消除这些效应,但是熔制样片时降低了试样的被检浓度,而加入的熔剂也会引入新的成分,检测时要避开这些因素。...
同样ICP-AES、ICP-MS、原子吸收光谱法在样品前处理过程中也常用大量化学试剂,造成环境污染。X射线荧光光谱法具有样品前处理简单、分析周期短、重现性好、可同时测定多元素、测试成本低等优点。由于XRF是表面分析技术,X射线的强度随着样品的粒度和样品不均匀而变化产生颗粒效应,地质化探样品成分复杂、组分含量低,样品很难磨碎到500目以下,在粉末压片XRF法中影响了测定的准确度和精密度。...
样品经熔融玻璃片法或粉末压片法制样,试样中各元素原子在波长色散X射线荧光光谱仪中经激发放射出特征X射线谱线。通过测量试样中目标元素的特征X射线谱线强度的有无进行元素的定性分析,通过强度的高低定量分析试样中各元素的质量分数。一起来看看下图加深印象吧!...
传统的化学分析方法,操作过程繁琐、分析周期长、劳动强度较大、分析结果受分析人员及各种试剂因素影响较大。X荧光光谱法具有制样简便、分析速度快、重现性好、多元素组份同时分析和低成本等优点,被广泛应用在硅酸盐岩石分析中。以往X荧光采用粉末压片的方法辅助化学法进行分析、检测,由于粉末压片的方法在分析时不可避免的存在着一定的粒度效应和矿物效应的影响,因此对所得结果的精度影响较大。...
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