光学组件的表面质量是对可能会在制造和处理过程中产生的表面缺陷(划痕和凹坑或麻点)的评估。表面质量对激光应用比对成像应用更重要,因为表面缺陷可能会引发激光诱导损伤。需要大功率的敏感系统也可能会因为表面缺陷而形成光通量变化和散射的增加。比起适用于可见光或 IR 系统的光学元件,适用于 UV 波长的光学元件对表面质量公差的要求更严格,因为波长越短,接受的散射量越高。...
暗场显微成像技术(DFM)和表面增强的拉曼光谱(SERS)是新兴的分析技术, 已广泛应用于化学检测和生物传感的快速诊断分析。近期,卓立汉光集团拜访合肥工业大学食品与生物工程学院刘洪林教授课题组,课题组基于DFM和SERS这两个关键技术在猕猴桃软腐病致病菌属鉴定方面开展了相关研究工作。...
用彩色蚀刻法鉴别钢中的铁素体和碳化物是一种常用的方法。 干涉膜的生长是样品表面晶粒等晶体取向特征的函数。对于用标准试剂蚀刻(攻击晶界)产生(晶界的)不完整网络,从而阻止数字图像重建的合金,由于不同的晶粒取向,微观结构的颜色编码允许对晶粒尺寸进行分析。 定量胜于定性。定量金相的起源在于光学显微镜在金属合金微观组织研究中的应用。材料科学家必须解决的首要问题是:合金中某些特征的尺寸是多少?...
不同的光学显微观察方法,如明场 (BF)、暗场 (DF)、微分干涉对比 (DIC)、偏光 (POL)、紫外 (UV)、斜照明和红外线 (IR) 透射光 [1-4] 对于在晶圆和集成电路芯片检测过程中快速、准确地检测缺陷至关重要。检查过程中需要克服的挑战随着刻蚀结构和微电子元件尺寸的迅速缩小,生产中对使用较大晶圆的需求不断增加。...
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