PD IEC TS 63202-4:2022
光伏电池 光和高温引起的晶体硅光伏电池退化的测量
Photovoltaic cells - Measurement of light and elevated temperature induced degradation of crystalline silicon photovoltaic cells
- 标准号
- PD IEC TS 63202-4:2022
- 发布
- 2022年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- PD IEC TS 63202-4:2022
- 适用范围
- 范围 IEC 63202 的这一部分描述了在模拟阳光下测量晶体硅光伏 (PV) 电池的光和高温诱导退化 (LETID) 的程序。 IEC 63202-1 涵盖了测量晶体硅光伏电池初始光致退化 (LID) 的要求，其中评估了光伏电池在中等温度和 20 kWh·m -2 终止标准内的初始持续时间下的 LID 退化风险。光伏组件的发电量很大程度上受到其中使用的光伏电池固有的 LETID 性能的影响。此 LETID 性能包括 LID 和其他退化机制。本文件中描述的程序用于评估光伏电池在高温和较长时间的光照射下的降解行为。通过将光照射过程中标准测试条件(STC)下的电池最大功率P max 与初始P max 进行比较来确定降解速率、最大降解比率和可能的再生。给出了相对于累积辐照的 AP 最大降解曲线，这有助于电池制造商在组装成模块之前判断电池是否容易出现 LETID。与将硼氧诱导的 LID 与 LETID 分开或仅限于载流子注入诱导的降解的一些其他标准不同 [1] 1 ，在升高的温度下光照射下的总体降解包括在本文件中描述的程序中。整体退化...
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