KS C IEC 62047-18-2016(2021)
半导体器件微机电器件第18部分:薄膜材料弯曲试验方法

Semiconductor devices ― Micro-electromechanical devices ― Part 18: Bend testing methods of thin film materials


 

 

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标准号
KS C IEC 62047-18-2016(2021)
发布
2016年
发布单位
韩国科技标准局
当前最新
KS C IEC 62047-18-2016(2021)
 
 

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