DIN EN ISO 1179-4:2008-08

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (IEC 60749-37:2008); German version EN 60749-37:2008 / Note: To be replaced by DIN EN IEC 60749-37 (2023-02).

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标准号

DIN EN ISO 1179-4:2008-08

发布

2008年

发布单位

德国标准化学会

当前最新

DIN EN ISO 1179-4:2008-08

 

 

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