ASTM D7639-10(2018) 通过X射线荧光测定金属基板上锆的处理重量或厚度的标准测试方法发布历史

ASTM D7639-10(2018)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2018-09-01。

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1.1 本测试方法涵盖使用X射线荧光（XRF）光谱法测定金属基材单位面积上锆（Zr）涂层重量的质量。

1.2 涂层处理也可以用线性厚度单位表示，前提是涂层的密度已知，或者使用与待分析测试样本的处理相匹配的标准建立厚度测定的校准曲线。为了简单起见，该方法随后将参考以涂层重量表示的测定。

1.3 XRF 适用于测定各种金属基材上的锆涂层重量或含锆处理的总涂层重量，或两者。

1.4 给定涂层的最大可测量涂层重量是指超过该重量时涂层或基材的特征 X 射线辐射强度不再对重量的微小变化敏感。

1.5 以 SI 单位表示的值应被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。

1.6 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任建立适当的安全、健康和环境实践，并在使用前确定监管限制的适用性。

1.7 本国际标准是根据世界贸易组织贸易技术壁垒（TBT）委员会发布的《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确立的国际公认的标准化原则制定的。

ASTM D7639-10(2018)
通过X射线荧光测定金属基板上锆的处理重量或厚度的标准测试方法