仪器简介SM200光学薄膜厚度测量仪器非接触式、非破坏性的测试超厂寿命光源、更高的发光效率(可定制光源)桌面式分布设计、适用场景丰富维护成本低、保养方便SM230自动光学薄膜厚度扫描测绘仪非接触式、非破坏性的测试测绘速度快,支持多点测绘点位地图绘制支持绘制样品2D/3D厚度分布图高精度、长寿命的3轴旋转平台SM280自动显微薄膜厚度测绘仪非接触式、非破坏性的测试系统集成实时摄像头,监控测量点配备显微物镜...
每个多重反射光的相位差由光的波长和光程长度(光在薄膜中来回移动的距离乘以薄膜的折射率)决定。这种相位差使得从样品反射或透射的光谱产生一个独特的光谱,该光谱取决于薄膜厚度。光谱干涉测量法是一种通过分析特定光谱来测量薄膜厚度的技术。奥谱天成利用光谱干涉法,通过曲线拟合或极值法或快速傅里叶变换(FFT)方法分析目标光谱,以满足现场的应用。...
测厚仪按照测量的方式不同,可大致分为:1、接触式测厚仪接触面积大小划分:点接触式测厚仪面接触时测厚仪2、非接触式测厚仪非接触式测厚仪根据其测试原理不同,又可分为以下几种:激光测厚仪超声波测厚仪涂层测厚仪X射线测厚仪白光干涉测厚仪电解式测厚仪管厚规主要类型激光测厚仪:是利用激光的反射原理,根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度,是一种非接触式的动态测量仪器。...
▲薄膜测厚仪:用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。 ▲涂层测厚仪:用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度。 ▲超声波测厚仪:超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。...
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