非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 KS E 3066-2013(2023) 前三页,或者稍后再访问。
您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。
采用玻璃熔融制样XRF法,分析硅质耐火材料的主次成分,灵敏度高、精确度及重复性较好,操作简单,方便快捷,能够满足《耐火材料-X射线荧光光谱化学分析-熔铸玻璃片法》(GB/ T21114-2019) 标准要求。...
SJ/T 10551-19942021-06-01SJ/T 10553-2021电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法本标准规定了电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法。本标准适用于电子陶瓷用二氧化锆中铁、硅、磷、钙、镁和钛的氧化物杂质测定的中型摄谱仪方法。...
2020-10-017 YS/T 1344.2-2020掺锡氧化铟粉化学分析方法 第2部分:硅含量的测定 钼蓝光度法 本部分规定了掺锡氧化铟粉中硅含量的测定方法。 本部分适用于掺锡氧化铟粉中硅含量的测定。测定范围:0.000 5 %~0.010 %。...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号