SJ/T 11705-2018
微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法

Ground and power supply impedance test methods for microelectronic device packages

SJT11705-2018, SJ11705-2018

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标准号: SJ/T 11705-2018
别名: SJT11705-2018, SJ11705-2018
发布: 2018年
发布单位: 工业和信息化部
当前最新: SJ/T 11705-2018

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