ANSI/IEEE Std 759-1984
半导体 X 射线能谱仪的 IEEE 标准测试程序

IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor X-Ray Energy Spectrometers

ANSI/IEEE Std 759-1984 发布历史

ANSI/IEEE Std 759-1984由美国电气电子工程师学会 US-IEEE 发布于 1984-12-15，并于 1984-12-15 实施。

ANSI/IEEE Std 759-1984 半导体 X 射线能谱仪的 IEEE 标准测试程序的最新版本是哪一版？

最新版本是 ANSI/IEEE Std 759-1984 。

ANSI/IEEE Std 759-1984的历代版本如下：

• 1984年 ANSI/IEEE Std 759-1984 半导体 X 射线能谱仪的 IEEE 标准测试程序

介绍了 X 射线光谱仪的测试程序，该光谱仪由半导体辐射探测器组件和连接到脉冲高度分析仪/计算机的信号处理电子器件组成。涵盖能量分辨率、光谱失真、脉冲高度线性度、计数率效应、过载效应、脉冲高度稳定性和效率。脉冲高度分析仪和 co... 的测试程序

标准号

ANSI/IEEE Std 759-1984

发布

1984年

发布单位

美国电气电子工程师学会

当前最新

ANSI/IEEE Std 759-1984

 

 

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