DB34/T 3368.1-2019
印制电路板中有害物质分析方法 第1部分：铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选 X 射线荧光光谱法
Methods for the analysis of hazardous substances in printed circuit boards - Part 1: Rapid screening X-ray fluorescence spectrometry for lead, mercury, chromium, cadmium and bromine
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- DB34/T 3368.1-2019
- 发布
- 2019年
- 发布单位
- 安徽省标准
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- DB34/T 3368.1-2019
- 本部分规定了 X 射线荧光光谱法快速筛选印制电路板中有害物质铅、汞、铬、镉、溴的方法原理、 仪器设备、试剂、样品制备、分析步骤、筛选和报告。 本部分适用于印制电路板中有害物质铅、汞、铬、镉、溴的快速筛选，其中所测定的铬、溴是指样 品中的总铬、总溴。
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澳大利亚标准协会
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AS 1038.10.5.2:2007 煤和焦炭.分析和试验.第10.5.2部分:煤和飞尘.痕量元素.汞含量的测定.酸萃取法
BE-NBN
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台湾地方标准
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CNS 4682-1978 粒状耐火物体密度及孔隙度之测定法（汞位移法）
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