4、喷镀金属:将干燥的样品用导电性好的粘合剂或其他粘合剂粘在金属样品台上,然后放在真空蒸发器中喷镀一层50~300埃厚的金属膜,以提高样品的导电性和二次电子产额,改善图象质量,并且防止样品受热和辐射损伤。如果采用离子溅射镀膜机喷镀金属,可获得均匀的细颗粒薄金属镀层,提高扫描电子图象的质量。冷冻方法制备样品低温扫描电子显微术是20世纪80年代迅速发展和广泛应用的方法。...
主要特点 : ·探头与主机用60cm电缆连接,便于测量和操作,探头与主机分开便于探头污染后去污。 ·响应快速准确,阈值可调。 ·响应时间可设置。 ·携带方便,操作简单。 技术性能: l 碘化钠闪烁体探头或半导体探头(环境级、高污染水平)。 ...
Detector: CDM-EFIB 的形貌观察只是一个次要功能,它的主要用途切割,可以用来处理半导体,芯片和传感等。如Fig.6 :一个用 FIB 切出的直径约 50 纳米粗的铂纳米棒。科研上的用途主要是原位透射样品的制备,减薄,截面样品的制备。...
最近发展起来的高纯锗Ge探测器,不仅提高了分辨率,而且扩大了探测的能量范围(从25keV扩展到100keV),特别适用于透射电镜:如Link的GEM型的分辨率已优于115eV(MnKα)和65eV(FKα),Noran的ExplorerGe探测器,探测范围可达100keV等。1995年中国科学院上海原子核研究所研制成了Si(Li)探测器,能量分辨率为152eV。...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号