DIN ISO 13067:2021-08
微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸测量
Microbeam analysis - Electron backscatter diffraction - Measurement of average grain size (ISO 13067:2020)
- 标准号
- DIN ISO 13067:2021-08
- 发布
- 2021年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 当前最新
- DIN ISO 13067:2021-08
推荐
一文看懂EBSD!
3.2 晶粒尺寸及形状的分析传统的晶粒尺寸测量依赖于显微组织图象中晶界的观察。自从EBSD出现以来，并非所有晶界都能被常规浸蚀方法显现这一事实已变得很清楚，特别是那些被称为“特殊”的晶界，如孪晶和小角晶界。因为其复杂性，严重孪晶显微组织的晶粒尺寸测量就变得十分困难。 由于晶粒主要被定义为均匀结晶学取向的单元，EBSD是作为晶粒尺寸测量的理想工具。...
XRD、TEM、AFM表征粒径的方式及异同
XRD：采用X 射线衍射法计算纳米粒子的平均粒径是因为高角度(2θ＞50°)X 射线衍射线的Kα1 与Kα2 双线会分裂开，造成线宽化的假象，这会影响实际线宽化测量值。其次，X 射线衍射法测定的是纳米粒子的晶粒度，当纳米粒子为单晶时，测量的直径即为颗粒粒径；当粒子为多晶时，测量的为平均晶粒大小。所以，此时的粒径测量值可能会小于实际粒径值。当小晶体的尺寸和形状基本一致时，计算结果比较可靠。...
XRD和TEM在样品物象上表征的区别
目前，可以利用粉末衍射卡片进行直接比对，也可以计算机数据库直接进行检索。 XRD 粒度分析 纳米材料的晶粒尺寸大小直接影响到材料的性能。XRD可以很方便地提供纳米材料晶粒度的数据。测定的原理基于样品衍射线的宽度和材料晶粒大小有关这一现象。当晶粒小于100nm 时，其衍射峰随晶粒尺寸的变大而宽化。当晶粒大于100nm时，宽化效应则不明显。...
纳米材料粒度测试仪器和方法大全
本文根据不同的测试原理阐述了8种纳米材料粒度测试方法，并分析了不同粒度测试方法的优缺点及适用范围。 1.电子显微镜法 电子显微镜法是对纳米材料尺寸、形貌、表面结构和微区化学成分研究最常用的方法， 一般包括扫描电子显微镜法（SEM） 和透射电子显微镜法（TEM）。对于很小的颗粒粒径，特别是仅由几个原子组成的团簇，采用扫描隧道电镜进行测量。...