电子显示器 光学特性的测量 环境性能 不是强制性中国国家标准,您可以免费下载预览页
X射线晶片测量工具可用于监测和控制关键设备参数,是硅半导体工厂不可或缺的一部分。此外,对高性能(光)电、高功率、高频设备的市场需求的日益增长,推动了当今化合物半导体行业的不断发展,以应对新的挑战。开发具有定制光学和电气特性的结晶薄膜、持续改进大批量生产流程以及增强质量管理,都是提高产量和控制此类设备成本的必要条件。X射线测量是一种经过验证的理想工具,也可帮助业界实现这些目标。...
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