KS C IEC 60747-14-1-2019
半导体器件 - 第14-1部分:半导体传感器 - 传感器的通用规范

Semiconductor devices — Part 14-1: Semiconductor sensors —Generic specification for sensors

被代替

半导体器件 - 第14-1部分:半导体传感器 - 传感器的通用规范, 您可以免费下载预览页

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试：免费下载 KS C IEC 60747-14-1-2019 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

标准号: KS C IEC 60747-14-1-2019
发布: 2019年
发布单位: KR-KS
替代标准: KS C IEC 60747-14-1:2021
当前最新: KS C IEC 60747-14-1:2021

KS C IEC 60747-14-1-2019相似标准

IEC 60747-14-1:2010 半导体器件.第14-1部分:半导体传感器.传感器用总规范 KS C IEC 60747-14-1:2021 半导体器件第14-1部分:半导体传感器传感器总规范 KS C IEC 60747-14-1-2021 半导体器件第14-1部分:半导体传感器传感器总规范 GB/T 20522-2006 半导体器件第14-3部分:半导体传感器压力传感器 IEC 60747-14-5:2010 半导体器件.第14-5部分:半导体传感器.PN-结点半导体温度传感器

推荐

传感器（检测装置）百科（四）：术语国标使用要点

GB/T 7666-2005 传感器命名法及代号GB/T 11349.1-2006 振动与冲击机械导纳的试验确定第1部分：基本定义与传感器GB/T 20521-2006 半导体器件第14-1部分: 半导体传感器-总则和分类GB/T 14048.15-2006 低压开关设备和控制设备第5-6部分：控制电路电器和开关元件-接近传感器和开关放大器的DC接口（NAMUR）GB/T 20522-2006 半导体器件第...

半导体气体传感器的原理

　　半导体气体传感器是利用气体在半导体表面的氧化还原反应导致敏感元件电阻值发生变化而制成的。当半导体器件被加热到稳定状态，在气体接触半导体表面而被吸附时，被吸附的分子首先在物体表面自由扩散，失去运动能量，一部分分子被蒸发掉，另一部分残留分子产生热分解吸附在物体表面。当半导体的功函数小于吸附分子的亲和力，则吸附分子将从器件夺走电子而变成负离子吸附，半导体表面呈现电荷层。　　...

谱育科技丨GDM-2100 Series特气检测仪新品上市

产品介绍GDM-2100 Series是一款专门针对半导体行业用户设计的特气检测仪，其具有高可靠性和高灵敏度的特点，采用先进的smart sensor传感技术，支持多种数据传输模式。产品特点※ 兼容性设计检测仪主体采用通用化设计，可兼容EC、NDIR、Catalytic等多种检测原理的智能传感器模组，让特气检测仪主机实现了通用化，节约了购机成本。...

用芯制造，安全有谱丨谱育科技GDM-2100 Series特气检测仪新品上市

KS C IEC 60747-14-1-2019 中可能用到的仪器设备

传感器/敏感元件

KS C IEC 60747-14-1-2019半导体器件 - 第14-1部分:半导体传感器 - 传感器的通用规范