IEC 60191-2:1966/AMD11:2004
修改件11.半导体器件的机械标准化.第2部分:尺寸
Amendment 11 - Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2: Dimensions
2007-08
哪些标准引用了IEC 60191-2:1966/AMD11:2004
找不到引用IEC 60191-2:1966/AMD11:2004 修改件11.半导体器件的机械标准化.第2部分:尺寸 的标准
- 标准号
- IEC 60191-2:1966/AMD11:2004
- 发布
- 2004年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 替代标准
- IEC 60191-2:1966/AMD12:2006
- 当前最新
- IEC 60191-2:1966/AMD21:2020
IEC 60191-2:1966/AMD11:2004相似标准
推荐
史上最全可靠性试验标准，384项，不仅包括中国标准
半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性测试前非密封表面安装设备预处理(IEC 60749-30-2005+A1-2011).德文版 EN 60749-30-2005+A1-2011DIN EN 61747-5-3-2010 液晶显示装置.第5-3部分:环境、耐久性和机械试验方法.玻璃强度和可靠性(IEC 61747-5-3-2009,修改件).德文版本EN 61747-5-3-2010DIN...
关注 | 这些IEC国际标准由我国牵头及联合牵头制修订
、北京必创科技股份有限公司、中机生产力促进中心12TC51IEC 61333:2019 ED2铁氧体磁心的标记Marking on ferrite cores中国电子技术标准化研究院、横店集团东磁股份有限公司13TC51IEC 63093-4:2019 ED1铁氧体磁心 尺寸和表面缺陷极限导则 第4部分：RM型磁心Ferrite cores - Guidelines on dimensions and...
关注 | 国标委公布首批中英互认标准清单
General半导体器件机械和气候试验方法总则IEC 60749-1:200214GB/T5054.2-2008道路车辆 多芯连接电缆 第2部分：高性能护套电缆的性能要求和试验方法Road vehicles - Multi-core connecting cables - Part 2: Test methods and requirements for high performance sheathed...