ISO 17867:2020
粒度分析.小角度X射线散射（SAXS）
Particle size analysis — Small angle X-ray scattering (SAXS)
ISO 17867:2020 发布历史
ISO 17867:2020由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2020-10-05。
ISO 17867:2020在国际标准分类中归属于: 19.120 粒度分析、筛分。
ISO 17867:2020 发布之时，引用了标准
- ISO 26824 颗粒系统的颗粒特性.词汇*， 2022-08-08 更新
- ISO/TS 80004-2 纳米技术.词汇.第2部分:纳米对象
* 在 ISO 17867:2020 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。
ISO 17867:2020的历代版本如下：
- 2020年 ISO 17867:2020 粒度分析.小角度X射线散射（SAXS）
- 2015年 ISO 17867:2015 粒径分析. 小角X射线散射
本文件规定了应用小角 X 射线散射 (SAXS) 来估计 1 nm 至 100 nm 尺寸范围内的平均粒径的方法。 它适用于颗粒之间的相互作用和散射效应可以忽略不计的稀分散体。 本文描述了几种数据评估方法：吉尼尔近似、基于模型的数据拟合、基于蒙特卡罗的数据拟合、间接傅立叶变换方法和期望最大化方法。 最合适的评估方法旨在由分析师选择并在报告中明确说明。 虽然吉尼尔近似仅提供平均粒径的估计，但其他方法也可以深入了解粒径分布。
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