GB/T 43226-2023
宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

Single-event soft error time domain testing method for semiconductor integrated circuits used in aerospace applications

GBT43226-2023, GB43226-2023


GB/T 43226-2023 发布历史

GB/T 43226-2023由国家质检总局 CN-GB 发布于 2023-09-07，并于 2024-01-01 实施。

GB/T 43226-2023 在中国标准分类中归属于: V25 电子元器件，在国际标准分类中归属于: 49.140 航天系统和操作装置。

GB/T 43226-2023的历代版本如下：

  • 2023年 GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

 

标准号
GB/T 43226-2023
别名
GBT43226-2023
GB43226-2023
发布
2023年
发布单位
国家质检总局
当前最新
GB/T 43226-2023
 
 

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