IEC 61967-6:2008
集成电路.150kHz至1GHz电磁发射的测量.第6部分:传导发射的测量.磁探针法
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method
- 标准号
- IEC 61967-6:2008
- 发布
- 2008年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 替代标准
- IEC 61967-6:2002/AMD1:2008
- 当前最新
- IEC 61967-6:2002/COR1:2010
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